图10。7（b）示出了逐次逼近模数转换器的示意图。该方法涉及对应于输入电压yi的二进制码进行连续猜测。 使用DAC将试用代码转换为模拟电压，并使用比较器来判断猜测是否太高或太低。在此结果的基础上，进行了另一个猜测，重复该过程，直到Vq在量化间隔yi一半之内。

图10。7  模拟数字控制器

（a）反斜坡转换器

（b）逐次逼近转换器

表10。2 典型的逐次逼近

ADC中的猜测序列

输入电压yi=0。515V

时钟脉冲 DAC输入 DAC Vq输出电压 比较器输出Vc 结果

启动转换

1 清除寄存器 00000000 0 0

2第一步猜测 01111111

（127）10 1。27 1 高 b7=0

3 下一步猜测 00111111

(63)10 0。63 1 高 b6=0

4 00011111

（31）10 0。31 0 低 b5=1

5 00101111

（47）10 0。47 0 低 b4=1

6 00110111

（55）10 0。55 1 高 b3=0

7 00110011

（51）10 0。51 0 低 b2=1

8 00110101

（53）10 0。53 1 高 b1=0

9 最后一步猜测 00110100

（52）10 0。52 1 高 b0=0

有效数据

输出数字信号=00110100

表10。2显示了输入范围为0到2。55V的8位二进制转换器的一系列猜测。首先猜测是对应于（127）10，即大约一半的满量程01111111：这个猜测是高的，所以b7被设置为0，如果猜测为低b7将被设置为1。下一个猜测是0011111对应于（63）10，即 大约四分之一满量程，这个猜测也很高，所以b6被确认为0。该过程一直持续到所有剩余的位已被确认，DATA VALID信号然后改变状态。

图10。8显示了闪存或者阵列模拟 - 数字转换器的一般示意图。在任何n位二进制ADC中，存在Q量化电压电平V0至VQ-1，其中Q = 2n。 在闪存ADC中有Q-1。不需要提供V0电压电平。在每个比较器q中，输入采样值yi为相应电压电平Vq的红外线。如果yi小于或等于Vq， 输出为零对应于0。如果yi大于Vq，则输出为非零，对应于1，即:

V_q^c=0，y_i≤V_q

V_q^c=1，y_i>V_q

图10。8  闪存模数转换器

因此，如果yi位于Vq和Vq + 1之间，即 Vq <yi <Vq + 1，最低q比较器1至q的输出将全部为1，并且剩余比较器q + 1至Q-1的输出将全部为0。因此比较器提供一个Q-1位数的并行输入代码到优先编码器，其产生对应于q的值的n位二进制并行输出代码。主要优点是转换时间短;主要的不利之处在于大量的比较器需要给出可接受的分辨率也意味着它相对昂贵。