利用X射线衍射谱图中衍射角的位置和强度可以鉴别样品的物相组成，其基于Bragg 方程原理。每种物质的晶相结构和晶胞尺寸都有其特定的衍射角和衍射强度，本表征通过比对未知样的XRD谱图与标准粉末衍射来确定未知样的物相和晶型结构，判断其组成，相应的计算出粉体的粒径大小。

（2）扫描电子显微镜（SEM）：扫描电子显微镜采用日立S-3000型，在20kV下，对材料的形貌进行表征。通过扫描电镜（SEM）我们可以在微观层面上，观察晶体的颗粒尺寸、形貌以及表面结构，是研究物质微观结构的主要手段之一。来.自/优尔·论|文-网·www.youerw.com/

（3）比表面测试（BET）：采用Beckman Coulter 公司生产的CoulterSA3100型表面孔径吸附仪对材料的比表面积。

（4）IR红外：采用傅里叶变换红外光谱测试仪is50 FT-IR，溴化钾压片分析有机物官能团以及结构。

（5）定量分析在紫外和可见光区有吸收的物质

     采用日本Shimadzu UV-1750型紫外可见分光光度计对试样紫外可见吸收峰进行测试，以去离子水为标准参比样品，测量范围为200~800 nm；