1 P0 12 0。00 48 2。7 7

2 P0-1 12 0。00 48 2。7 4

3 P0-2 12 0。00 48 2。7 10

4 P4 12 0。48 48 2。7 7

5 P4-1 12 0。48 48 2。7 4

6 P4-2 12 0。48 48 2。7 10

2。3  膜的表征

2。3。1  红外光谱分析（FTIR）

本实验过程中使用的红外光谱仪是美国Nicolet公司生产的AVATAR 360FT-IR型傅里叶变换红外光谱仪。

2。3。2  膜的热稳定性测试文献综述

采用热重分析仪（TGA/SDTA851c）测试干膜的热稳定性，在氮气的气氛下，温度从室温升高到1000 ℃。

2。3。3  扫描电镜分析（SEM）

采用美国FEI公司生产的Quanta FEG 450型号扫描电子显微镜对膜的表面、断面结构进行表征。取洁净的样品膜置于电子扫描显微镜下观察其微观结构。将试样置于液氮中冷冻，取出并迅速用薄刀片将其折割断，然后经真空干燥、喷金置于电子扫描显微镜下用加速电压观察断面形态。

2。3。4  X射线衍射分析（XRD）

本实验过程中使用的X射线衍射仪是瑞士ARL公司生产的SCINTXTRA型X射线衍射仪。