2。2 高分辨率透射电镜分析

2。2。1 HRTEM 原理及测试仪器

1926 年德国学者 Busch 提出“具有轴对称的磁场对电子束起着透镜作用， 有可能使电子束聚焦成像”的观点，为透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）提供了理论依据。目前在 TEM 市场上，最具竞争力的生产 厂商有美国的 FEI 公司、日本的 JEOL 公司与 Hitachi 公司，各自具有成熟的产 品线，随着日渐纷繁的新技术应用于能源材料领域，多用途高分辨率分析电镜将 会成为探索微观世界的终极工具。

透射电镜的总体工作原理是：由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿 着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑， 照射在样品室内的样品上；透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息，样 品内致密处透过的电子量少，稀疏处透过的电子量多；经过物镜的会聚调焦和初级放大后，电子束进入下级的中间透镜和第 1、第 2 投影镜进行综合放大成像， 最终被放大了的电子影像透射在观察室内的荧光屏板上；荧光屏将电子影像转化 为可见光影像以供使用者观察。

为了研究乙烯中添加戊醇后初生颗粒纳米结构的变化，本实验通过美国 FEI 公司制造的 Tecnai G2 F30 S-TWIN 型场发射透射电子显微镜（主要技术参数如 下表），在 200kV 电压下以 0。24 纳米的点分辨率获得了初生颗粒的高分辨率透 射电镜图像。