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        再保持黑体温度不变，采集320×240 IRFPA探测元在不同环境温度下探测时的响应电压，每个环境温度采集50帧以上响应数据取平均值。
     3  红外焦平面阵列性能参数测试原理
        红外焦平面阵列器件的主要性能参数有[1]:
    像元响应电压：焦平面在一定帧周期或行周期条件下，在动态范围内，像元产生的输出信号电压；
    像元响应率：焦平面在一定帧周期或行周期条件下，在动态范围内，像元对每单位辐照功率产生的输出信号电压；
    死像元数：像元响应率小于平均响应率1/10的像元数；
    过热像元数：像元噪声电压大于平均噪声电压10倍的像元数；
    响应率非均匀性：焦平面各有效像元响应率均方根偏差与平均响应率的比值；
    空间噪声电压：响应率非均匀性与像元平均响应电压的乘积。
    设一个I×J元的IRFPA探测器进行探测，下面给出像元响应电压和响应率非均匀性的计算公式。
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