基因芯片荧光成像的非直观方法研究(2)
1.2 偏振研究现状 偏振是光波的基本属性之一，蕴含了被测物体的诸多特征信息，是一种极为重要的检测参数。光波在传播过程中，由于光的入射角和观察角度不同以及物体本身的水分含量、介质特性、表面粗糙度等特征，改变了光线的偏振特性，因此光波的偏振能够包含被测物多方面的信息。由于光的偏振信息无法被常规光电探测器和人眼分辨，所以通常情况下接收到的信息主要来自于光强与光谱信息。利用偏振参数成像这种特定的手段，间接测量出物体的偏振非直观图，对于材料的表征、图像识别等诸多领域具有极为重要的意义，科学界为此做出了诸多了探索。 目前主要有两种偏振测量原理：分振幅法和偏光调制法。早在 1985年 RMA. Azzam 就提出分振幅测量法[5]，它实现了对光波偏振态的快速测量，但是要求极高的光学系统装配精度，测量结果极易受到装配精度的影响而降低系统的稳定性[6-7]。偏光调制法广泛用于主动偏振成像系统中的起偏和检偏装置。从调制方法上来分，偏振光的调制主用分为两种——机械调制和相位延迟调试[8]。
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