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研究
现状
从50年代开始,我国对光谱透过率检测方面的研究工作就已经开始了,但由于当时的检测方法以及检测设备相对来说比较落后,所以进展程度不大。在早期国内对光学
系统
透过率测量较为常用的检测方法是光电流检测法;而在80年代以前,我国也研制出了一些透过率测试仪器,该检查仪器有TGY-2型透过率测定仪以及BJ型透过率和光电透过率检查仪;
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如今主要采用紫外和可见光分光光度计来检测光学系统的光谱透过率。在这个领域内较为先进国内企业分别为上海分析仪器厂、北京瑞利。上海精密科学仪器公司生产的分光光度计检测波长范围达到190nm——1100nm,精度可达0.3%,杂散光低于0.05%。27022
国外
研究现状
相对于国内的研究现状来看,国外对于光学透过率的研究时间更长,科技成果也相对较多,具体仪器[2]有:奥林巴斯公司研制的USPM—RU型分光光度计,该分光光度计能在可见光波长范围内获得透镜表面的透过率,但是该仪器价格昂贵,限制了人们的使用;随着发射器件和接收器件质量不断的提高,各种测量仪器的所能测量的波长范围已经扩展到红外区,如岛津和贝克曼等生产的设备,测量的波长范围可达到170nm——3300nm。随着科学技术的发展,该测试也有了质的飞跃,比如单色仪精度的提高、测试波长范围变宽、接收器件的不断更新以及应用范围的扩大。
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