在我国科技不断进步、成熟的过程中，特别是改革开放后，我国逐步开始生产门类齐全的各种仪器，并且在测量仪器的生产中具有一定的代表力，开始形成了一系列具有一定生产规模的产业体系。随着重工业的发展，测量技术的需求不断扩大，这就要求我们必须朝着数字化测量技术的方向发展。这样才能从根本上提高我国的生产力水平。41853

通常的相位测量仪测量方法是：首先对两路待测信号进行处理，采用过零检测法将待测信号转变成矩形波；再对处理过的信号进行比较，得到鉴相脉冲，即相位差脉宽；最后再利用得到的相位差脉宽控制计数器的启停。简言之，就是两路输入信号的相位差需要用高频时钟脉冲填补，从而实现相位的准确测量[2]。论文网

硬件电路测量和经过A/D采样后利用专门软件进行计算是相位测量中经常使用的测量方法。从发展前景看，硬件电路测量不容乐观，因为它的电路结构比较复杂、精确度不够高以及容易受到外界环境干扰。然而，后者在近年来发展十分迅速，不仅是因为各种软件、硬件的迅速发展，以数字信号处理为核心的测量技术，也随着工业的发展得到更广泛的关注。

1990年以来，在各种电子技术、自动化技术的迅速发展下，FPGA得到了空前的发展。FPGA的最大特点是集成度高、可靠性高，它可以将整体系统的设计

存放于同一个芯片中，从而大大的缩减了电路的实际体积。而单片机任然保持着内部资源多、引脚功能多、低功耗等优点。

参考文献

[1] 康占义.低频数字相位测量仪的设计[J].中国科技信息,2009(8):136-138.

[2] 丁英丽.相位差的测量方法.本溪冶金高等专科学校学报[N].第4卷第2期，2002.6.

[3] 马文华,甘达.FPGA在数字相位差测量仪中的应用[J].广西师范大学学报,2005,23(1):103-105.

[4] 张鑫主编.单片机原理及应用[M].北京:电子工业出版社,2005.8:139-141.

[5] 童诗白,华成英主编.模拟电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,2006.5:423-425.

[6] 阎石主编.数字电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,2006.5:457-464.

[7] 王幸之等.AT89系列单片机原理与接口技术[M].北京:北京航空航天大学出版社,2004.

[8] 杨吉祥等.电子测量技术基础[M].南京:东南大学出版社,2004.

[9] 孙笑语.用单片机实现高精度数字频率计.沈阳电力高等专科学校校报[N].1999.1.

[10] 潘松,黄继业.EDA技术实用教程[M],北京:科学出版社,2002.10.

[11]  National Instruments Corporation.TMS320C2XX USER’S GUIDE.

[12] Paul R.Gary (America). Analysis and Analog Integrated Circuits[M].Beijing: Higher Education Press, 2003.

[13] Mark D.Bimbaum (America). Essential Electronic Design Automation (EDA) [M].Beijing: China Machine Press,2005.

[14] 欧伟明等编著.电子信息系统设计[M].西安:西安电子科技大学出版社,2005:88-129.

[15] 夏国江,邹世开.基于单片机的FPGA/CPLD测试接口板设计[J].电子测量技术,2006.29(2):85,144.

[16] 梁恩主,梁恩维编著.Protel 99 SE 电路设计与仿真应用[M].清华大学出版社,2000.

[17] 王金明编著.数字系统设计与Verilog HDL[m].北京:电子工业出版社,2009.1.

[18] 欧伟明主编.基于MCU、FPGA、RTOS的电子系统设计与实例[M].北京:北京航空航天大学出版社,2007.7.

[19] 田秀丰,何继爱,李敏.低频数字式相位测量仪的设计[J].无线通信技术.2008.

[20] 欧明伟,王湘中.基于MCU和FPGA的数字式相位测量仪的设[J].2006.09.20.

[21] 袁本荣,刘万春等.用Verilog HDL进行FPGA设计的一些基本方法[J].微计算机信息,2004,20(6):93-94.